CMU-cs445:并发访问

latch和lock

latch

  • 种类
    • Test-and-Set Spin Latch(TAS)
    • 读写锁
    • 乐观/悲观锁
  • 粒度
    • page latch:锁少,并行度不好
    • slot latch:锁多,并行度高
  • latch crabbing/coupling
  • B+树的死锁问题
  • B+树insert,父节点延迟更新